我国引进*纳米离子探针通过验收
我国引进的*台NanoSIMS 50L型纳米离子探针验收会于近日在中国科学院地质于地球物理研究所召开。中国科学院地质于地球物理研究所副所长吴福元研究员为组长的专家组认真听取了法国CAMECA公司纳米离子探针设计师、François Hillion博士所作的验收报告。专家组对仪器的验收指标有关问题进行了提问，一致认为该仪器的技术参数不仅全部达到合同要求，大部分还优于合同要求的验收指标。
纳米离子探针具有*的空间分辨率（Cs+源束斑小于 50nm，O-源束斑小于200nm），与我所已有的CAMECA ims 280高精度离子探针互补，构成上非常先进的的离子探针分析平台。新引进的NanoSIMS 50L型纳米离子探针配置了7个信号检测器（每个配置法拉第杯和电子倍增器），可以同时测量7个同位素（或元素），分析精度好于千分之一。该仪器可以分析除稀有气体以外，元素周期表中从H至U的全部同位素（元素），并能获取同位素分布的高分辨图像。纳米离子探针的引进，为我国比较行星学、地球科学、材料科学、以及生命科学等领域提供了新的大型实验分析平台。
